產(chǎn)品特征
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成像算法強(qiáng)大
系統(tǒng)預(yù)設(shè)十余種不同的算法結(jié)果圖,每一種都專為捕捉特定的圖像特征而設(shè)計(jì),從各個(gè)角度精準(zhǔn)呈現(xiàn)出物體表面的微小瑕疵;還支持用戶根據(jù)具體的檢測(cè)需求調(diào)整算法,從而輸出定制化的圖像,拓寬在不同應(yīng)用場(chǎng)景中的適用性。
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圖像處理流暢
相機(jī)內(nèi)部集成??谱匝泄舛攘Ⅲw算法,對(duì)圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)計(jì)算和分析,大幅減輕上位機(jī)的計(jì)算負(fù)擔(dān),保障了圖像處理的速度和準(zhǔn)確性,延遲低至微秒級(jí),滿足生產(chǎn)線上高速、連續(xù)的檢測(cè)要求。
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光路設(shè)計(jì)豐富
針對(duì)不同檢測(cè)項(xiàng)目,??乒舛攘Ⅲw成像系統(tǒng)支持配置不同的光源方案,確保全方位呈現(xiàn)瑕疵形態(tài)。
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硬件性能卓越
系統(tǒng)可搭配埃科自研的4K/8K線陣相機(jī)及900萬(wàn)像素面陣相機(jī),線陣相機(jī)最高行頻150kHz,面陣相機(jī)光度立體模式下最高幀率11.68fps,均采用萬(wàn)兆網(wǎng)接口輸出數(shù)據(jù),輕松應(yīng)對(duì)在線高速檢測(cè)。
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系統(tǒng)配置靈活
??乒舛攘Ⅲw成像系統(tǒng)集相機(jī)、光源、控制器于一體,支持鏡頭選配,避免了傳統(tǒng)視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)繁雜的組件搭配。
應(yīng)用案例
埃科光度立體成像系統(tǒng)專為檢測(cè)漫反射物體表面的細(xì)微缺陷和凹凸變化而設(shè)計(jì),是鋰電池缺陷檢測(cè)、金屬表面瑕疵識(shí)別以及其他非鏡面物體檢測(cè)的理想選擇。
產(chǎn)品規(guī)格
型號(hào) | SL4KXGV-75K-4 | SL8KXGV-150K-4 | |||
名稱 | 4K線掃4分區(qū)光度立體相機(jī) | 8K線掃4分區(qū)光度立體相機(jī) | |||
傳感器類型 | Global Shutter CMOS | ||||
圖像模式 | 黑白 | ||||
光學(xué)尺寸 | 28.67 mm | 57.34 mm | |||
分辨率 | 4096*2 | 8192*1 | |||
像素大小 | 7μm * 7μm | ||||
最大行頻 | 75K | 150KHz | |||
像素位寬 | 8 bit | ||||
動(dòng)態(tài)范圍 | ≥54.0 dB | ≥54.1 dB | |||
數(shù)據(jù)率 | 307MB/s(光度立體模式614MB/s) | 1229MB/s | |||
觸發(fā)模式 | 外部觸發(fā) / 內(nèi)部自由運(yùn)行 | ||||
觸發(fā)源 | 外部IO / 軟件觸發(fā) | ||||
曝光控制 | 時(shí)間設(shè)置 / 外部脈寬控制 | ||||
曝光時(shí)間 | 3.375μs - 63998.375μs(步長(zhǎng):0.0125μs) | ||||
增益范圍 | 1/2/3/4/5/6/7/8x(模擬增益) 0.1-8.0(數(shù)字增益) |
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鏡頭接口 | M42 | M72 | |||
數(shù)據(jù)接口 | 10GigE Vision(使用 SFP+) | ||||
電源接口 | DB15接口 | ||||
電源規(guī)格 | DC12 - 24V(±10%)1.5A | ||||
相機(jī)功率 | 光口:10.4W / 電口:8.6W | TBD | |||
外殼尺寸 | 330mm(W) x 388mm(D) x348mm(H) | 相機(jī):76mm(W) x 76mm(D) x 65.1mm(H) 系統(tǒng):478mm(W) x 500mm(D) x441.77mm(H) |
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運(yùn)行溫度 | 0~55℃ | ||||
儲(chǔ)存溫度 | -20~75℃ | ||||
輸出圖像類型 | 光度立體模式Gradient X、Gradient Y、Texture、Integration、Curl、average、max、enhance;普通模式輸出原始圖像 |